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三、界址點(diǎn)的測(cè)量方法
1、極坐標(biāo)法
極坐標(biāo)法是測(cè)定界址點(diǎn)坐標(biāo)最常用的方法、如下圖所示:
已知數(shù)據(jù) A(XA,YA),B(XB,YB),觀測(cè)數(shù)據(jù)β,S,則界址點(diǎn) P 的坐標(biāo) P(XP,YP)為:
XP=XA+S cos(αAB+β)
YP=YA+S sin(αAB+β)
其中,αAB
= arctan((YB-YA)/(XB-YA))
測(cè)定β角的儀器有光學(xué)經(jīng)緯儀、電子經(jīng)緯儀、全站儀等,S 的測(cè)量一般都采用電磁波測(cè)距儀、全站儀或鑒定過(guò)的鋼尺,現(xiàn)在多用全站儀。
2、交會(huì)法
交會(huì)法可分為角度交會(huì)法和距離交會(huì)法。
?角度交會(huì)法
角度交會(huì)法是分別在兩個(gè)測(cè)站上對(duì)同一界址點(diǎn)測(cè)量?jī)蓚€(gè)角度進(jìn)行交會(huì)以確定界址點(diǎn)的位置。如下圖所示:
角度交會(huì)
距離交會(huì)
A、B 兩點(diǎn)為已知測(cè)站點(diǎn),其坐標(biāo)為 A(XA、YA)、B(XB,YB),觀測(cè)α、β角,P 點(diǎn)為界址點(diǎn),其坐標(biāo)計(jì)算公式(公式推導(dǎo)見有關(guān)測(cè)量學(xué)教材)如下:
也可用極坐標(biāo)法公式進(jìn)行計(jì)算,此時(shí)圖 中的 S = S AB sinα /sin(180 ?α ? β ) 。其中SAB 為已知邊長(zhǎng),將其相應(yīng)參數(shù)代入極坐標(biāo)法計(jì)算即可。
角度交會(huì)法一般適用于在測(cè)站上能看見界址點(diǎn)位置,但無(wú)法測(cè)量出測(cè)站點(diǎn)至界址點(diǎn)的距離。交會(huì)角∠P 應(yīng)在 30o~150o 的范圍內(nèi)。A、B 兩測(cè)站點(diǎn)可以是基本控制點(diǎn)或圖根控制點(diǎn)。
?距離交會(huì)法
距離交會(huì)法就是從兩個(gè)已知點(diǎn)分別量出至未知界址點(diǎn)的距離以確定出未知界址點(diǎn)的位置的方法。如上圖所示,已知 A(XA,YA,),B(XB,YB),觀測(cè) S1、S2,P 點(diǎn)為界址點(diǎn),其坐標(biāo)計(jì)算公式如下:
式中:
由于測(cè)設(shè)的各類控制點(diǎn)有限,因此可用這種方法來(lái)解析交會(huì)出一些控制點(diǎn)上不能直接測(cè)量的界址點(diǎn)。A、B 兩已知點(diǎn)可能是控制點(diǎn),也可能是已知的界址點(diǎn)或輔助點(diǎn)(為測(cè)定界址點(diǎn)而測(cè)設(shè)的)這種方法仍要求交會(huì)角∠P 在 30o~150o 之間。
以上兩種交會(huì)法的圖形頂點(diǎn)編號(hào)應(yīng)按順時(shí)針?lè)较蚺帕?,即?B、P、A 的順序。進(jìn)行交會(huì)時(shí),應(yīng)有檢核條件,即對(duì)同一界址點(diǎn)應(yīng)有兩組交會(huì)圖形,計(jì)算出兩組坐標(biāo),并比較其差值。若兩組坐標(biāo)的差值在允許范圍以內(nèi),則取平均值作為最后界址點(diǎn)的坐標(biāo)?;虬亚蟪龅慕缰伏c(diǎn)坐標(biāo)和鄰近的其他界址點(diǎn)坐標(biāo)反算出的邊長(zhǎng)與實(shí)量邊長(zhǎng)進(jìn)行檢核,其差值如在規(guī)范所允許范圍以內(nèi),則可確定所求出的界址點(diǎn)坐標(biāo)是正確的。
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